RTK兩次測(cè)量誤差大的問(wèn)題可能是由多種因素導(dǎo)致的。為了解決這個(gè)問(wèn)題，可以嘗試以下方法：

　　1、校準(zhǔn)儀器：RTK儀器需要進(jìn)行定期校準(zhǔn)，以確保其測(cè)量準(zhǔn)確度。如果發(fā)現(xiàn)誤差較大，可以嘗試重新校準(zhǔn)儀器。

　　2、確定控制點(diǎn)：RTK測(cè)量需要使用控制點(diǎn)來(lái)確定測(cè)量位置和精度。如果控制點(diǎn)選擇不當(dāng)，會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差增大。因此，在選擇控制點(diǎn)時(shí)，需要選擇具有代表性的點(diǎn)，并避免在同一個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行多次測(cè)量。

　　3、避免信號(hào)干擾：RTK測(cè)量需要使用衛(wèi)星信號(hào)來(lái)確定測(cè)量位置和精度。如果信號(hào)受到干擾，會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差增大。因此，在測(cè)量時(shí)需要遠(yuǎn)離電視、電臺(tái)發(fā)射塔、飛機(jī)場(chǎng)、高壓線和大面積水域等干擾源。

　　4、調(diào)整測(cè)量參數(shù)：RTK測(cè)量需要設(shè)置一些參數(shù)，如衛(wèi)星高度角、接收機(jī)靈敏度等。如果這些參數(shù)設(shè)置不當(dāng)，會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差增大。因此，在測(cè)量時(shí)需要根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整參數(shù)。

　　5、多次測(cè)量取平均值：RTK測(cè)量可以多次測(cè)量取平均值，以提高測(cè)量精度。因此，在同一個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行多次測(cè)量，并取平均值可以減小誤差。

　　6、選用更高精度的設(shè)備：如果以上方法無(wú)法解決問(wèn)題，可以考慮使用更高精度的設(shè)備進(jìn)行測(cè)量。例如，采用激光測(cè)距儀等更高精度的測(cè)量設(shè)備進(jìn)行測(cè)量。

　　總之，RTK兩次測(cè)量誤差大的問(wèn)題需要針對(duì)具體原因進(jìn)行解決。如果以上方法無(wú)法解決問(wèn)題，建議咨詢(xún)專(zhuān)業(yè)人士進(jìn)行指導(dǎo)。